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Congrès nationaux 2005 - 2012 de l'équipe Instrumentation et modélisation des Systèmes et nanosystèmes Avancés

Congrès nationaux avec actes et comité de lecture

2010

L. Chassagne, P. Ruaux, S. Topsu, B. Cagneau, Y. Alayli, G. lerondel, M. Besnard, P. Sauvageot, Porte-échantillon multi-échelle pour un positionnement nanométrique en microscopie en champ proche et en lithographie, 11ème colloque international francophone Méthodes et Techniques Optiques pour l’Industrie, (Toulouse - France), CD-ROM ISBN 978-2-918241-02-7, Novembre 2010.

B. Cagneau, S. Topsu, L. Chassagne, P. Ruaux, Y. Alayli, Système pour l'étude des interactions entre nano-objets par pince laser et coulage haptique, 11ème colloque international francophone Méthodes et Techniques Optiques pour l’Industrie, (Toulouse - France), CD-ROM ISBN 978-2-918241-02-7, Novembre 2010.

A. Sinno, L. Chassagne, P. Ruaux, Y. Alayli, G. Lerondel, S. Blaize, A. Bruyant, P. Royer, Microscopie en champ proche multi-échelle : du nanomètre au millimètre, Proc 50 Colloque Interdisciplinaire en Instrumentation C2I (Le Mans - France), January 2010.

2006

P. Ruaux, M. Wakim, S. Xu, L. Chassagne, S. Topçu, Y. Alayli, Platine de déplacement 2 axes à resolution nanométrique sur course millimétrique, Micronora, Besançon, September 2006.

2005

J.P. Loisel, R. Sarrouf, V. Sousa, T. Badr, S. Topçu, L. Chassagne, J.J. Zondy, J.P. Wallerand, J. Nasser, Y. Alayli, P. Juncar, P.R. Dahoo, Using the transition 4d10 5s2 S1/2 &harr 4d9 5s2 2D1/2 of Ag as an optical frequency standard, SFP September 2005.